思瑞專用檢測方案，配置CCD影像測頭系統(tǒng)和CWS白光傳感器，擁有高性能的影像測量功能，性價比出眾， 能輕松解決易變形曲面輪廓檢測難題。

創(chuàng)新的CCD光學(xué)影像尋邊方式測量工件邊緣，快速準(zhǔn)確建立基準(zhǔn)，閃測二維尺寸，包括HOME鍵、指紋鍵、攝像頭等孔位、槽直徑、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。重復(fù)測量精度高。建立基準(zhǔn)重復(fù)性提升至2um，內(nèi)外長寬、孔位重復(fù)性提升至2-3um，坐標(biāo)建立時間縮短至38s。CCD尋邊效率比接觸式探針尋邊，要快3-5倍，提高了檢測效率。

CWS非接觸式共聚焦白光傳感器，采用色階共聚焦白光探頭，可以準(zhǔn)確完成空間尺寸數(shù)據(jù)的量測（輪廓度，厚度、平面度、R角尺寸）。對于曲面材料邊沿較大角度的位置，光譜共焦位移傳感器可以獲得更大可測量區(qū)域。其非接觸采點(diǎn)方式，測量全程不產(chǎn)生碰觸，無需擔(dān)心任何外力影響下的接觸變形。 

通過自動旋轉(zhuǎn)測座，靈活的實(shí)現(xiàn)3D玻璃的各位置的非接觸式掃描。且具有連續(xù)掃描功能，無需逼近回退，最高達(dá)到1000點(diǎn)/秒，減少了測頭回退時間和感應(yīng)時間，比傳統(tǒng)測量方式快3倍左右，遠(yuǎn)比想象更強(qiáng)大。

并且，CWS系統(tǒng)解決了長久以來工件表面要求反光和透明材質(zhì)的這一痛點(diǎn)，可輕松應(yīng)對敏感、柔軟、色散、反射、傾斜、彎曲或者低對比度的表面反光材質(zhì)或透明材質(zhì)的光學(xué)難點(diǎn)測量。

功能強(qiáng)大的方案軟件系統(tǒng)

RATIONAL DMIS軟件系統(tǒng)，擁有智能過濾功能，消除雜點(diǎn)，保證測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定和一致性。多樣化的測量報告、spc數(shù)據(jù)統(tǒng)計、工藝改進(jìn)提供支持等功能只需要輕松點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可實(shí)現(xiàn)。分析報告，直觀清晰。適用于產(chǎn)品分析，特殊位置展示等。

廣泛的應(yīng)用范圍

易變形曲面掃描檢測方案精度高，也非常適用于石墨模具測量。石墨模具不能有劃痕，對其表面光滑度要求很高，這種非接觸式的檢測設(shè)備正好滿足需求。

關(guān)于三坐標(biāo)、影像測量儀等精密儀器更多信息，可查閱思瑞官網(wǎng)，還有更多測量機(jī)器等你發(fā)現(xiàn)。