三坐標(biāo)測(cè)量軟件rational-dmis如何繪制Xbar-R圖

在加工生產(chǎn)過(guò)程，為了保證產(chǎn)品良率，需要對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行監(jiān)控。思瑞測(cè)量三坐標(biāo)測(cè)量軟件rational-dmis自帶SPC圖表分析功能，可輕松繪制Xbar-R圖。通過(guò)提供三坐標(biāo)測(cè)量數(shù)據(jù)反饋給上游生產(chǎn)環(huán)節(jié)，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并改善問(wèn)題 ，有效提高良率，節(jié)約企業(yè)成本。

認(rèn)識(shí)三坐標(biāo)測(cè)量軟件RatioanalDMIS SPC專(zhuān)用模塊：

SPC:統(tǒng)計(jì)分析模塊應(yīng)用統(tǒng)計(jì)分析技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)控和評(píng)估計(jì)算Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk等重要的生產(chǎn)控制參數(shù)可保存為PDF和Exce|兩種格式的數(shù)據(jù)。輸出顯示：XBar-R圖表、XBar-S圖表、極限圖表、運(yùn)行時(shí)間圖表、柱狀圖表，并輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。只需一個(gè)鼠標(biāo)拖執(zhí)操作，即可完成要統(tǒng)計(jì)的元素 SPC。

認(rèn)識(shí)Xbar-R控制圖：

 實(shí)驗(yàn):

某工件長(zhǎng)度要求為243±0.4mm,現(xiàn)在我們針對(duì)這個(gè)尺寸要求三坐標(biāo)采集25組，共計(jì)125個(gè)產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù)作為樣本。

從生產(chǎn)過(guò)程收集數(shù)據(jù)，每間隔4小時(shí)，從生產(chǎn)過(guò)程中抽取5個(gè)零件，三坐標(biāo)測(cè)量其長(zhǎng)度，組成一個(gè)大小為5的樣本，一共收集25組樣本（數(shù)據(jù)見(jiàn)下表）：

注：一般來(lái)說(shuō),每組樣本n≤10，組數(shù)K≥25。每個(gè)子組數(shù)據(jù)是在非常相近條件下生產(chǎn)，因此每組之間的變差為普通原因造成的，對(duì)于所有子組樣品應(yīng)保持恒定。

計(jì)算每個(gè)子組的樣本均值及極差（見(jiàn)上表）

Xbar=(X1+X2+X3+...Xn)/N

R=Xmax-Xmin

式中：X1、X2、X3...Xn為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值，n為子組樣本容量。

計(jì)算控制限：

Xbar圖：CL==243.116

 UCL=+R=243.116+0.58*0.294=243.29   X均值上限

 LCL=-R=243.116-0.58*0.294=242.95    X均值下限

R圖：CL=R=0.294

UCL=R=2.11*0.294=0.622      極差上限

LCL =<0                                 極差下限

在控制圖系數(shù)表中：

*對(duì)于樣本容量小于7的情況,可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值，即沒(méi)有下限。

繪制Xbar-R控制圖

分別做Xbar圖和R圖，在同一張紙上便于對(duì)照分析，Xbar圖在上，R圖在下，縱軸在同一直線上，橫軸互相平行且刻度對(duì)齊。根據(jù)各個(gè)樣本和均值在控制圖上描點(diǎn)。

判斷管制圖狀態(tài)：

本實(shí)驗(yàn)中，Xbar管控圖中第15組的點(diǎn)在管制界限外，且從第9點(diǎn)到第15點(diǎn)的走勢(shì)呈下降的趨勢(shì)，故處于管制失控狀態(tài)。

總結(jié)：

在三坐標(biāo)測(cè)量軟件RatioanalDMIS操作過(guò)程中，Xbar-R控制圖可以應(yīng)用于生產(chǎn)過(guò)程控制中，當(dāng)控制圖出現(xiàn)警告信號(hào)時(shí)，可由責(zé)任人員填寫(xiě)Xbar-R控制圖異常報(bào)警表，交工藝人員做出分析并制定糾正措施。必要時(shí)，對(duì)超出控制限的點(diǎn)確認(rèn)為特殊原因引起，必須對(duì)該點(diǎn)加以刪除，重新修訂控制圖。